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HAMEG HM15073
Owner's Manual


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  • Language: English, German, French, Spanish
Price: $4.99

Description of HAMEG HM15073 Owner's Manual

Complete owner's manual in digital format. The manual will be available for download as PDF file after You purchase it.

Owner's Manual ( sometimes referred to as User's Guide or User's Manual ) contains information on how to use Your device. After placing order we'll send You download instructions on Your email address.

The manual is available in languages: English, German, French, Spanish

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 MV40 GRUNDIG Owner's Manual by vittorio gentili;
SCANNING OF HIGH QUALITY VERY, VERY HIGH VELOCITY DOWNLOAD VERY GOOD PRICE, TRUE SATISFIED, THANKS
 27WL56 TOSHIBA Owner's Manual by Michael Paul;
Genuine Toshiba owner's manual. Couldn't really ask for more. And written in understandable English in contrast to a few recent experiences I have had with manuals for other equipment other than Toshiba but made in China and written in "Chinglish"!
 MX-P21 SONY Owner's Manual by Chip Guesman;
I purchased a vintage Sony mixer off eBay and within the hour was able to locate and purchase the manual for it.I mean really,where else can you find a manual for a product made in 1983!? It was easy to find and purchase/download the manual I needed.I will use this site again for other equipment I have! Great site!
 NSX999 AIWA Owner's Manual by jorge garcia;
manual de usuario perfecto y completo de buena calidad de impresion y muy detallado ideal !
 PM3216 PHILIPS Owner's Manual by Ivan Semyonov;
It`s full copy of a service manual from url http://www.philips.owner-manuals.com/PM3216-service-manual-PHILIPS.html

Text excerpt from page 38 (click to view)
Komponenten-Test

Komponenten-Test

–

Eine Ellipse mit vertikaler Längsachse bedeutet niedrige Impedanz (groÃźe Kapazität oder kleine Induktivität). Eine Ellipse in Schräglage bedeutet einen relativ groÃźen Verlustwiderstand in Reihe mit dem Blindwiderstand.

– Gerätebezogene Informationen, welche die Bedienung und die Messanschlüsse betreffen, sind dem Absatz CT (46) unter „Bedienelemente und Readout” zu entnehmen. Das Oszilloskop verfügt über einen eingebauten KomponentenTester. Der zweipolige Anschluss des zu prüfenden Bauelementes erfolgt über die dafür vorgesehenen Buchsen. Im Komponententest-Betrieb sind sowohl die Y-Vorverstärker wie auch der Zeitbasisgenerator abgeschaltet. Jedoch dürfen Signalspannungen an den auf der Frontplatte befindlichen BNC-Buchsen weiter anliegen, wenn einzelne nicht in Schaltungen befindliche Bauteile (Einzelbauteile) getestet werden. Nur in diesem Fall müssen die Zuleitungen zu den BNC-Buchsen nicht gelöst werden (siehe „Tests direkt in der Schaltung”). AuÃźer den INTENS.-, FOCUSund X-POS.-Einstellern haben die übrigen Oszilloskop-Einstellungen keinen Einfluss auf diesen Testbetrieb. Für die Verbindung des Testobjekts mit dem Oszilloskop sind zwei einfache Messschnüre mit 4mm-Bananensteckern erforderlich. Wie im Abschnitt SICHERHEIT beschrieben, sind alle Messanschlüsse (bei einwandfreiem Betrieb) mit dem Netzschutzleiter verbunden, also auch die Buchsen für den Komponententester. Für den Test von Einzelbauteilen (nicht in Geräten bzw. Schaltungen befindlich) ist dies ohne Belang, da diese Bauteile nicht mit dem Netzschutzleiter verbunden sein können. Sollen Bauteile getestet werden, die sich in Testschaltungen bzw. Geräten befinden, müssen die Schaltungen bzw. Geräte unter allen Umständen vorher stromlos gemacht werden. Soweit Netzbetrieb vorliegt, ist auch der Netzstecker des Testobjektes zu ziehen. Damit wird sichergestellt, dass eine Verbindung zwischen Oszilloskop und Testobjekt über den Schutzleiter vermieden wird. Sie hätte falsche Testergebnisse zur Folge.

Bei Halbleitern erkennt man die spannungsabhängigen Kennlinienknicke beim Ãśbergang vom leitenden in den nichtleitenden Zustand. Soweit das spannungsmÃ¤Ãźig möglich ist, werden Vorwärts- und Rückwärts-Charakteristik dargestellt (z.B. bei einer Z-Diode unter 10V). Es handelt sich immer um eine ZweipolPrüfung; deshalb kann z.B. die Verstärkung eines Transistors nicht getestet werden, wohl aber die einzelnen Ãśbergänge B-C, B-E, C-E. Da der Teststrom nur einige mA beträgt, können die einzelnen Zonen fast aller Halbleiter zerstörungsfrei geprüft werden. Eine Bestimmung von Halbleiter-Durchbruch- und Sperrspannung >10V ist nicht möglich. Das ist im allgemeinen kein Nachteil, da im Fehlerfall in der Schaltung sowieso grobe Abweichungen auftreten, die eindeutige Hinweise auf das fehlerhafte Bauelement geben. Recht genaue Ergebnisse erhält man beim Vergleich mit sicher funktionsfähigen Bauelementen des gleichen Typs und Wertes. Dies gilt insbesondere für Halbleiter. Man kann damit z.B. den kathodenseitigen Anschluss einer Diode oder Z-Diode mit unkenntlicher Bedruckung, die Unterscheidung eines p-n-p-Transistors vom komplementären n-p-n-Typ oder die richtige Gehäuseanschlussfolge B-C-E eines unbekannten Transistortyps schnell ermitteln. Zu beachten ist hier der Hinweis, dass die Anschlussumpolung eines Halbleiters (Vertauschen der Messkabel) eine Drehung des Testbilds um 180° um den Rastermittelpunkt der Bildröhre bewirkt. Wichtiger noch ist die einfache Gut-/Schlecht-Aussage über Bauteile mit Unterbrechung oder Kurzschluss, die im Service-Betrieb erfahrungsgemÃ¤Ãź am häufigsten benötigt wird. Die übliche Vorsicht gegenüber einzelnen MOS-Bauelementen in Bezug auf sta-

Nur entladene Kondensatoren dürfen getestet werden!
Das Testprinzip ist von bestechender Einfachheit. Ein im Oszilloskop befindlicher Sinusgenerator erzeugt eine Sinusspannung, deren Frequenz 50Hz (±10%) beträgt. Sie speist eine Reihenschaltung aus Prüfobjekt und eingebautem Widerstand. Die Sinusspannung wird zur Horizontalablenkung und der Spannungsabfall am Widerstand zur Vertikalablenkung benutzt. Ist das Prüfobjekt eine reelle GrÃ¶Ãźe (z.B. ein Widerstand), sind beide Ablenkspannungen phasengleich. Auf dem Bildschirm wird ein mehr oder weniger schräger Strich dargestellt. Ist das Prüfobjekt kurzgeschlossen, steht der Strich senkrecht. Bei Unterbrechung oder ohne Prüfobjekt zeigt sich eine waagerechte Linie. Die Schrägstellung des Striches ist ein MaÃź für den Wi-derstandswert. Damit lassen sich ohmische Widerstände zwischen 20Ω und 4,7kΩ testen. Kondensatoren und Induktivitäten (Spulen, Drosseln, Trafowicklungen) bewirken eine Phasendifferenz zwischen Strom und Spannung, also auch zwischen den Ablenkspannungen. Das ergibt ellipsenförmige Bilder. Lage und Öffnungsweite der Ellipse sind kennzeichnend für den Scheinwiderstandswert bei einer Frequenz von 50Hz. Kondensatoren werden im Bereich 0,1µF bis 1000µF angezeigt. – Eine Ellipse mit horizontaler Längsachse bedeutet eine hohe Impedanz (kleine Kapazität oder groÃźe Induktivität).

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Änderungen vorbehalten

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