HAMEG HM3036
Owner's Manual

Komponententest

INTENS.-, FOCUS- und X-POS.-Einstellern sowie der X-MAG.Taste (darf nicht eingerastet sein) haben die übrigen Oszilloskop-Einstellungen keinen Einflu� auf diesen Testbetrieb. Für die Verbindung des Testobjekts mit den COMP. TESTER-Buchsen sind zwei einfache Me�schnüre mit 4mmBananensteckern erforderlich. Nach beendetem Test kann durch Auslösen der COMP. TESTER-Taste der OszilloskopBetrieb übergangslos fortgesetzt werden.

eine Zweipol-Prüfung; deshalb kann z.B. die Verstärkung eines Transistors nicht getestet werden, wohl aber die einzelnen �bergänge B-C, B-E, C-E. Da der Teststrom nur einige mA beträgt, können die einzelnen Zonen fast aller Halbleiter zerstörungsfrei geprüft werden. Eine Bestimmung von Halbleiter-Durchbruch- und Sperrspannung > ca. 9V ist nicht möglich. Das ist im allgemeinen kein Nachteil, da im Fehlerfall in der Schaltung sowieso grobe Abweichungen auftreten, die eindeutige Hinweise auf das fehlerhafte Bauelement geben. Recht genaue Ergebnisse erhält man beim Vergleich mit sicher funktionsfähigen Bauelementen des gleichen Typs und Wertes. Dies gilt insbesondere für Halbleiter. Man kann damit z.B. den kathodenseitigen Anschlu� einer Diode oder ZDiode mit unkenntlicher Bedruckung, die Unterscheidung eines p-n-p-Transistors vom komplementären n-p-n-Typ oder die richtige Gehäuseanschlu�folge B-C-E eines unbekannten Transistortyps schnell ermitteln.

Wie im Abschnitt SICHERHEIT beschrieben, sind alle Me�anschlüsse (bei einwandfreiem Betrieb) mit dem Netzschutzleiter verbunden, also auch die COMP. TESTER-Buchsen. Für den Test von Einzelbauteilen (nicht in Geräten bzw. Schaltungen befindlich) ist dies ohne Belang, da diese Bauteile nicht mit dem Netzschutzleiter verbunden sein können. Sollen Bauteile getestet werden die sich in Testschaltungen bzw. Geräten befinden, müssen die Schaltungen bzw. Geräte unter allen Umständen vorher stromlos gemacht werden. Soweit Netzbetrieb vorliegt ist auch der Netzstecker des Testobjektes zu ziehen. Damit wird sichergestellt, da� eine Verbindung zwischen Oszilloskop und Testobjekt über den Schutzleiter vermieden wird. Sie hätte falsche Testergebnisse zur Folge. Nur entladene Kondensatoren dürfen getestet werden!
Das Testprinzip ist von bestechender Einfachheit. Ein im HM303-6 befindlicher Sinusgenerator erzeugt eine Sinusspannung, deren Frequenz 50Hz (±10%) beträgt. Sie speist eine Reihenschaltung aus Prüfobjekt und eingebauten Widerstand. Die Sinusspannung wird zur Horizontalablenkung und der Spannungsabfall am Widerstand zur Vertikalablenkung benutzt.

Ist das Prüfobjekt eine reelle Grö�e (z.B. ein Widerstand), sind beide Ablenkspannungen phasengleich. Auf dem Bildschirm wird ein mehr oder weniger schräger Strich dargestellt. Ist das Prüfobjekt kurzgeschlossen, steht der Strich senkrecht. Bei Unterbrechung oder ohne Prüfobjekt zeigt sich eine waagerechte Linie. Die Schrägstellung des Striches ist ein Ma� für den Widerstandswert.
Damit lassen sich ohmische Widerstände zwischen 20� und � 4,7k� testen. � Kondensatoren und Induktivitäten (Spulen, Drosseln, Trafowicklungen) bewirken eine Phasendifferenz zwischen Strom und Spannung, also auch zwischen den Ablenkspannungen. Das ergibt ellipsenförmige Bilder. Lage und �ffnungsweite der Ellipse sind kennzeichnend für den Scheinwiderstandswert bei einer Frequenz von 50Hz. Kondensatoren werden im Bereich 0,1µF bis 1000µF angezeigt. Eine Ellipse mit horizontaler Längsachse bedeutet eine hohe Impedanz (kleine Kapazität oder gro�e Induktivität). Eine Ellipse mit vertikaler Längsachse bedeutet niedrige Impedanz (gro�e Kapazität oder kleine Induktivität). Eine Ellipse in Schräglage bedeutet einen relativ gro�en Verlustwiderstand in Reihe mit dem Blindwiderstand. Bei Halbleitern erkennt man die spannungsabhängigen Kennlinienknicke beim �bergang vom leitenden in den nichtleitenden Zustand. Soweit das spannungsmä�ig möglich ist, werden Vorwärts- und Rückwärts-Charakteristik dargestellt (z.B. bei einer Z-Diode unter ca. 9V). Es handelt sich immer um
�nderungen vorbehalten

Zu beachten ist hier der Hinweis, da� die Anschlu�umpolung eines Halbleiters (Vertauschen von COMP. TESTER-Buchse mit Masse-Buchse) eine Drehung des Testbilds um 180° um den Rastermittelpunkt der Bildröhre bewirkt. Wichtiger noch ist die einfache Gut-/Schlecht-Aussage über Bauteile mit Unterbrechung oder Kurzschlu�, die im ServiceBetrieb erfahrungsgemä� am häufigsten benötigt wird.

Die übliche Vorsicht gegenüber einzelnen MOS-Bauelementen in Bezug auf statische Aufladung oder Reibungselektrizität wird dringend angeraten. Brumm kann auf dem Bildschirm sichtbar werden, wenn der Basisoder Gate-Anschlu� eines einzelnen Transistors offen ist, also gerade nicht getestet wird (Handempfindlichkeit).
Tests direkt in der Schaltung sind in vielen Fällen möglich, aber nicht so eindeutig. Durch Parallelschaltung reeller und/ oder komplexer Grö�en - besonders wenn diese bei einer Frequenz von 50Hz relativ niederohmig sind - ergeben sich meistens gro�e Unterschiede gegenüber Einzelbauteilen. Hat

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