HAMEG HM304
Owner's Manual

dem Bildschirm wird ein mehr oder weniger schräger Strich dargestellt. Ist das Prüfobjekt kurzgeschlossen, steht der Strich senkrecht. Bei Unterbrechung oder ohne Prüfobjekt zeigt sich eine waagerechte Linie. Die Schrägstellung des Striches ist ein Ma� für den Widerstandswert. Damit lassen sich ohmische Widerstände zwischen 20� und 4,7k� testen. Kondensatoren und Induktivitäten (Spulen, Drosseln, Trafowicklungen) bewirken eine Phasendifferenz zwischen Strom und Spannung, also auch zwischen den Ablenkspannungen. Das ergibt ellipsenförmige Bilder. Lage und �ffnungsweite der Ellipse sind kennzeichnend für den Scheinwiderstandswert bei einer Frequenz von 50Hz. Kondensatoren werden im Bereich 0,1µF bis 1000µF angezeigt. Eine Ellipse mit horizontaler Längsachse bedeutet eine hohe Impedanz (kleine Kapazität oder gro�e Induktivität). Eine Ellipse mit vertikaler Längsachse bedeutet niedrige Impedanz (gro�e Kapazität oder kleine Induktivität). Eine Ellipse in Schräglage bedeutet einen relativ gro�en Verlustwiderstand in Reihe mit dem Blindwiderstand. Bei Halbleitern erkennt man die spannungsabhängigen Kennlinienknicke beim �bergang vom leitenden in den nichtleitenden Zustand. Soweit das spannungsmä�ig möglich ist, werden Vorwärts- und Rückwärts-Charakteristik dargestellt (z.B. bei einer Z-Diode unter 12V). Es handelt sich immer um eine Zweipol-Prüfung; deshalb kann z.B. die Verstärkung eines Transistors nicht getestet werden, wohl aber die einzelnen �bergänge B-C, B-E, C-E. Da der Teststrom nur einige mA beträgt, können die einzelnen Zonen fast aller Halbleiter zerstörungsfrei geprüft werden. Eine Bestimmung von Halbleiter-Durchbruch- und Sperrspannung >12V ist nicht möglich. Das ist im allgemeinen kein Nachteil, da im Fehlerfall in der Schaltung sowieso grobe Abweichungen auftreten, die eindeutige Hinweise auf das fehlerhafte Bauelement geben. Recht genaue Ergebnisse erhält man beim Vergleich mit sicher funktionsfähigen Bauelementen des gleichen Typs und Wertes. Dies gilt insbesondere für Halbleiter. Man kann damit z.B. den kathodenseitigen Anschlu� einer Diode oder Z-Diode mit unkenntlicher Bedruckung, die Unterscheidung eines p-n-p-Transistors vom komplementären n-p-n-Typ oder die richtige Gehäuseanschlu�folge B-C-E eines unbekannten Transistortyps schnell ermitteln.

Pole: B-E Anschlüsse: (CT - Masse)

B-C (CT - Masse)

E-C (CT - Masse)

Pole: B-E Anschlüsse: (CT - Masse)

B-C (CT - Masse)

E-C (CT - Masse)

Zu beachten ist hier der Hinweis, da� die Anschlu�umpolung eines Halbleiters (Vertauschen von COMP. TESTER-Buchse mit Masse-Buchse) eine Drehung des Testbilds um 180° um den Rastermittelpunkt der Bildröhre bewirkt. Wichtiger noch ist die einfache Gut-/Schlecht-Aussage über Bauteile mit Unterbrechung oder Kurzschlu�, die im Service-Betrieb erfahrungsgemä� am häufigsten benötigt wird. Die übliche Vorsicht gegenüber einzelnen MOS-Bauelementen in Bezug auf statische Aufladung oder Reibungselektrizität wird dringend angeraten. Brumm kann auf dem Bildschirm sichtbar werden, wenn der Basis- oder Gate-Anschlu� eines einzelnen Transistors offen ist, also gerade nicht getestet wird (Handempfindlichkeit). Tests direkt in der Schaltung sind in vielen Fällen möglich, aber nicht so eindeutig. Durch Parallelschaltung reeller und/oder komplexer Grö�en - besonders wenn diese bei einer Frequenz von 50Hz relativ niederohmig sind - ergeben sich meistens gro�e Unterschiede gegenüber Einzelbauteilen. Hat man oft mit Schaltungen gleicher Art zu arbeiten (Service), dann hilft auch hier ein Vergleich mit einer funktionsfähigen Schaltung. Dies geht sogar besonders schnell, weil die Vergleichsschaltung gar nicht unter Strom gesetzt werden mu� (und darf!). Mit den Testkabeln sind einfach die identischen Me�punktpaare nacheinander abzutasten und die Schirmbilder zu vergleichen. Unter Umständen enthält die Testschaltung selbst schon die Vergleichsschaltung, z.B. bei Stereo-Kanälen, Gegentaktbetrieb, symmetrischen Brückenschaltungen. In Zweifelsfällen kann ein Bauteilanschlu� einseitig abgelötet werden. Genau dieser Anschlu� sollte dann mit der COMP. TESTER-Prüfbuchse ohne Massezeichen verbunden werden, weil sich damit die Brummeinstreuung verringert. Die Prüfbuchse mit Massezeichen liegt an Oszilloskop-Masse und ist deshalb brumm-unempfindlich. Die Testbilder zeigen einige praktische Beispiele für die Anwendung des Komponenten-Testers.
�nderungen vorbehalten

Typ: Normale Diode Pole: Kathode-Anode Anschlüsse: (CT - Masse)

Hochspann.-Diode Kathode-Anode (CT - Masse)

Z-Diode 12V Kathode-Anode (CT - Masse)

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